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    张辉

    • 副教授
    • 毕业院校：东南大学
    • 学历：博士研究生毕业
    • 学位：工学博士学位
    • 所在单位：集成电路学院
    • 学科：微电子学与固体电子学
    • 办公地点：临江楼A711-712
    • 联系方式：hui.zhang@nuist.edu.cn

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    In situ Observation of Crystalline Silicon Growth from SiO2 at Atomic Scale

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    发表刊物：Research

    页面范围：3289247

    是否译文：否

    发表时间：2019-10-30

    收录刊物：SCI


    2019 南京信息工程大学·网络信息中心 NUIST备80008
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