张辉

26

  • 副教授
  • 毕业院校：东南大学
  • 学历：博士研究生毕业
  • 学位：工学博士学位
  • 所在单位：集成电路学院
  • 学科：微电子学与固体电子学
  • 办公地点：临江楼A711-712
  • 联系方式：hui.zhang@nuist.edu.cn

访问量：

开通时间：..

最后更新时间：..

当前位置 中文主页 >> 科学研究 >> 论文成果
In situ Observation of Crystalline Silicon Growth from SiO2 at Atomic Scale

点击次数：

发表刊物：Research

页面范围：3289247

是否译文：否

发表时间：2019-10-30

收录刊物：SCI


2019 南京信息工程大学·网络信息中心 NUIST备80008
  • 南京信息工程大学